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复合式测量机
ZEISS O-INSPECT
●视野范围大，提供良好的图像质量
●快速精准的3D接触式测量
●敏感表面的光学测量
●在更短的时间内提高可靠性
●快速精准的3D接触式测量
●敏感表面的光学测量
●在更短的时间内提高可靠性
复合式测量机
ZEISS O-INSPECT复合式测量机能够通过光学或接触式测量获取每一项特征，且符合ISO-10360验收标准
产品简介
ZEISS O-INSPECT复合式测量机能够通过光学或接触式测量获取每一项特征，且符合ISO-10360验收标准。
出色的光学器件
视野范围大：良好的图像质量
ZEISS Discovery. V12来源于蔡司显微镜解决方案技术。与常规镜头相比，此镜头提供四倍更大观察视野，使镜头周边区域亦可确保出色的图像质量。优点：减少测量时间并具有稳定的精度。
更优对比度：ZEISS O-INSPECT 照明系统
为了获得精确的测量结果，需要高对比度的图像。为此，ZEISS O-INSPECT配备了一套多功能的照明系统。迥然不同的形状、纹理和表面颜色可采取不同入射角的方式，让边缘显得清晰可见。
多传感器技术
接触式测量
实现所需的高精度测量的正确选择。接触式探头（例如蔡司VAST XXT）逐点扫描元件的表面。另外增加了扫描功能，因此能够提供有关特征的形状信息。
光学测量
ZEISS Discovery. V12远心变焦镜头为测量结果提供了无失真的大观察视野，具有出色的精度，并大大缩短了测量时间。
白光
蔡司DotScan白光探头可对工件进行非接触式扫描。用于测量敏感、具反射性或低对比度的表面，这类表面难以使用其它光学探头进行测量。
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