您当前的位置：
智蜂机电科技
您当前的位置：
扫描电子显微镜
Scios 2 DualBeam
●最完整的样品信息
●精确的样品导航
●灵活配置优化解决方案
●超高分辨率成像
●高质量、多模式亚表面和3D信息
●无伪影成像和构成图案
扫描电子显微镜
产品简介
Thermo Scientific Scios 2 DualBeam 是一套超高分辨率的分析聚焦离子束扫描电子显微镜 (FIB-SEM) 系统，可为包括磁性和非导电材料在内的各种样品提供出色的样品制备与3D 表征性能。
Scios 2 DualBeam 通过创新的功能设计提高了通量、精度以及易用性，是满足科学家和工程师在学术、政府以及工业研究领域高级研究和分析需求的理想解决方案。
相关技术
TEM样品制备
DualBeam显微镜可制备用于(S)TEM分析的高质量、超薄样品。借助先进的自动化技术，任何经验水平的用户都可以获得各种材料的专家级结果。
3D材料表征
材料开发通常需要多尺度3D表征。DualBeam仪器可实现大体积连续切片和随后纳米级的SEM成像，可用于样品的高质量3D重建。
APT样品制备
原子探针断层扫描 (APT) 提供材料的原子分辨率 3D 组成分析。聚焦离子束 (FIB) 显微镜是一项为 APT 表征进行高质量、定向和特定样品制备的基本技术。
交叉切片
交叉切片通过揭示亚表面信息提供额外的剖析。DualBeam仪器配备卓越的聚焦离子束色谱柱，可实现高质量的交叉切片。借助自动化技术，可实现无人参与的高通量样品处理功能。
原位实验
需要通过电子显微镜直接实时观察微观结构变化，以便了解在加热、冷却和润湿过程中的动态过程（如再结晶、晶粒生长和相变）的基本原理。
多尺度分析
必须在更高分辨率下分析新材料，同时保留较大的样品背景。多尺度分析允许多种成像工具和模态（如X射线microCT、DualBeam、激光PFIB、SEM和TEM）关联。
半导体样品制备
Thermo Scientific DualBeam 系统为半导体器件的原子尺度分析提供了准确的 TEM 样品制备。自动化和先进的机器学习技术可以在正确的位置生成高质量的样品，并且单位样品成本低。
核心搜索：
PCB
PCB
PCB
PCB
PCB
PCB
