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三离子束研磨仪
LEICA EM TIC 3X
●配置灵活
●制样结果优良
●高通量
●人体工学设计
●制样结果优良
●高通量
●人体工学设计
三离子束研磨仪
Leica EM TIC 3X采用的宽场离子束研磨系统非常适合能谱分析EDS,波谱分析WDS,俄歇分析Auger,背散射电子衍射分析EBSD
产品简介
Leica EM TIC 3X采用的宽场离子束研磨系统非常适合能谱分析EDS,波谱分析WDS,俄歇分析Auger,背散射电子衍射分析EBSD。离子束研磨技术适用于多种多样材质样品,获得高质量切割截面或抛光平面的解决方案。使用该技术对样品进行处理,样品受到形变或损伤的可能性低,可暴露出样品内部真实的结构信息。同时可以灵活的选择多种样品台,不仅适用于高通量实验,也适合于特定制样需求实验室。
产品设计与操控性能特点
- 可获得高质量切割截面,区域尺寸可达>4×1mm
- 多样品台设计可一次运行容纳三个样品
- 可容纳样品尺寸为50×50×10mm或38mm直径
- 可简易精准地完成将样品安装到载台上以及调节与挡板相对位置的校准工作
- 通过触摸屏进行简单操控,不需要特别的操作技巧
- 样品处理过程可实时监控,可以通过体视镜或HD-TV摄像头观察
- LED4分割照明,便于观察样品和位置校准
- 内置式,解耦合设计的真空泵系统,提供一个无振动的观察视野
- 可在制备好的平整的切割截面上可再进行衬度增强作用,即离子束刻蚀处理
- 几乎适用于任何材质样品,使用冷冻样品台,挡板和样品温度可降至-160°c
- 通过USB即可进行参数和程序的上传或下载
- 一体化解决方案,大大节约用户的干预时间

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