您当前的位置：
智蜂机电科技
您当前的位置：
微区X射线荧光光谱仪
MICRO-XRF
●可选准直器尺寸，附加光管支持四种不同尺寸准直器更换
●AMS 聚焦深度，AMS系统能够对不平整样品表面图像进行清晰拍摄
微区X射线荧光光谱仪
产品简介
对比以往X射线荧光光谱仪, Bruker最新微区XRF 能够为您更多的展现样品中的元素信息，让您对您的样品了解更多。M4 TORNADO PLUS 具有超轻元素探测器，是首台能够测量 6 号元素（C）以上任何元素的微区 XRF 成像光谱仪。此外，所有轻元素的检测灵敏度都显著提高。在该仪器上，Bruker引入了最新专利AMS系统，该系统可有效增强多导毛细管的聚 焦深度，从而对不均匀样品进行更为清晰的元素成像。可选的第二个 X 射线源进一步扩展了设备的分析功能，支持从 0.5 mm 到 4.5 mm四个可选光斑尺寸。M4 TORNADO 系列产 品样品仓支持He吹扫模式进行测试。这可在保持大气压力的条件下显著提高轻元素的测试性能，可对生物或湿样品中的轻元素进行分析，而无需冻结或干燥样品。
PLUS 卓越的分析性能
1. 可对固体、颗粒或液体样品进行测试，具有 M4 TORNADO 系列产品所具备的所有测试功能。
2. 扩展您的 micro-XRF 的元素测试范围，能够从6号元素C开始记录光谱、线扫描和样品元素的面分布信息。
3. 在HyperMap中记录和保存每像素点的光学图像和完整光谱信息。
4. 通过将聚焦 X 射线光束与两个高通量超轻元素SDD探测器相结合，可有效缩短测量时间。
5. 使用可调整的基本参数法获得快速定量结果，或使用Bruker的XMethod软件进行有标样支持或者完全基于标准参数法的镀层样品厚度分析。
6. 使用AMS系统采集高聚焦深度的不均匀样品表面元素分布图像。
7. 在整个仪器的使用周期内，可通过升级和维护服务包提升使用性能。
应用案例
1. 电子元件元素分布分析
微电子元件越来越复杂。表面贴装器件（SMD）集成电路（IC）的尺寸和相互距离也变得越来越小，主要通过印刷电路板（PCB）夹层下的电线实现相互连接。因此，分析此类样品 需要相应研究方法具有高空间分辨率一定的穿透能力。
1. 玻璃碎片快速鉴别
Micro-XRF作为一种分析工具，结合了多种功能，非常适合对玻璃等法医样品进行非破坏性分析。它可以提供有关样品元素的信息，从主量元素到微量元素，可在任意环境条件下使 用，不受环境影响。
1. 轻元素检测灵敏度
M4 TORNADO PLUS是一种新型微区 XRF荧光光谱仪，专为检测轻元素而设计。该设备光管对轻元素检测进行了优化，新型石墨烯窗口探测器可检测到C元素。对于元素周期表中氧 元素之后（Z+8）所有元素，可以进行定量分析。
核心搜索：
PCB
PCB
PCB
PCB
PCB
PCB
