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FT-IR 光谱仪
INVENIO
●可实现光谱分辨率 < 0.085 cm-1
●快速扫描，70张光谱/秒
●应用步进扫描时间分辨测量可实现纳秒级时间分辨
●全新光路设计，实现高信噪比
●多达7个由软件控制的内部检测器
●多达2个输入端口及3个输出端口
●大量丰富的附件，可完美匹配您的样品
●多种外部模块，可应对高级测量设置
●精准的电子器件，可进一步提高光谱质量
FT-IR 光谱仪
产品简介
INVENIO能够简化您的日常分析任务。可选的触屏式电脑、无线联网功能、卓越的光谱性能、突破性的SoC电子元件和长寿命组件，而这些只是成就超凡INVENIO的其中一部分。
功能特点
创新特性
1. 全新设计的光束路径带来优异的信噪比。
2. 嵌入式触摸屏PC用于最快且高效的FT-IR分析（可选）
3. 第二个样品室可额外支持一种实验设置(TransitTM)
4. 创新的MultiTect™ 支持多达5个室温检测器，内部可配备多达7个自动检测器
5. 新型无磨损精准调节 INTEGRAL™ 干涉仪含三位分束器自动切换组件，分辨率优于 0.085cm-1
6. 现代 SoC 电子元件使用户能够分辨最小的光谱特征
7. 独特的BRUKER FM检测技术可以一次性收集远、中红外光谱
8. 从 FIR 到 VIS/UV 以及时间分辨光谱
需求变化，INVENIO 适应
您的应用程序是衡量事物的尺度，INVENIO 支持您的努力。如果您的分析需求增长，INVENIO 会跟上。它是您日常分析任务所需的坚实基础。
卓越的灵敏度
凭借新颖、高效的光路设计，以及由先进的SoC电子元件控制的精确的光学系统，INVENIO能够为您提供最佳性能，再细小的光谱细节亦无处可遁。
强大的软件
OPUS作为红外分析领域最强大的软件解决方案之一，能够简化测量程序，为FTIR初学者和专家提供支持，提供大量的方法创建成套工具，以及样品评估扩展功能。
时刻验证
INVENIO具有完整的自动PQ（性能验证）和OQ（操作验证）程序，可在受监管的制药实验室中进行仪器验证。
体验质量
从耐用的外壳，到拥有专利、无损耗且精准的干涉仪，每个元件均采用最优质的材料制成。INVENIO经久耐用，能够为您提供长达多年的长久可用性。
不再受限
1. 随时升级，扩展光谱范围。
2. 实现步进扫描、快速扫描和交叉扫描时间分辨光谱TRS。
3. 覆盖从远红外到紫外/可见光的任何细节。
4. 仅需数秒即可切换附件、检测器和分束器。
5.TGA、显微镜或发射分析等更多外部模块。
6. 拉曼模块用于增强分析可能性。
7. 符合GMP、GLP 及 21 CFR part 11。
更多分析
INVENIO几乎可与任何类型的样品相匹配，仅需几秒钟便可切换采样附件，借助第二个样品室，您还能并行采用两个实验设置。
工作更轻松
为了始终确保最佳的测量参数，所有核心组件均进行了电子编码。此外，可选的集成式触屏电脑能够带来绝佳的直观式用户体验，以及先进的联网功能。
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